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Autor(en): 
  • Stefan Eilers
  • Nanographen und Graphen im STM und SFM: Strukturen und Elektronische Eigenschaften von Nanographen-Graphen-Systemen sowie Schnitt- und Faltverhalten v 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Juli 2015  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9783838135069 
    EAN-Code: 
    9783838135069 
    Verlag:  Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG  
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  Deutsch  
    Dimensionen:  H 220 mm / B 150 mm / D 11 mm 
    Gewicht:  274 gr 
    Seiten:  172 
    Zus. Info:  Paperback 
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    Inhalt:
    Der Autor zeigt in dieser Arbeit kompakt und anschaulich, dass Nanometer grosse Graphene (Nanographene) in Verbindung mit Graphen an einer Oberfläche ein Materialsystem mit anwendungsfreundlichen Eigenschaften darstellt. An Hand von Untersuchungen im Rastertunnelmikroskop (STM) legt er verständlich dar, dass strukturelle und elektronische Eigenschaften des Materialsystems homogen, definiert und stabil vorliegen. Nanographen und Graphen besitzen somit entscheidende Voraussetzungen für Anwendungen in elektronischen sowie sensorischen Bauelementen. Der Autor zeigt mit Hilfe mechanisch manipulatorischer Untersuchungen im Rasterkraftmikroskop (SFM), welche Besonderheiten Graphen als atomar dünnes Material bei definierten Schnitt- sowie Faltprozessen aufweist. Er zieht als einen grundlegenden Schluss, dass sich Graphen mechanisch wie makroskopische Objekte verhält und mit einem entsprechenden Modell beschreiben lässt.

      



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